《公差配合与技术测量》

书名：《公差配合与技术测量》

ISBN：9787304080921

出版地：北京

出版时间：2017.1

出版价格：30元

光滑圆柱体结合的公差与配合，技术测量基础，几何公差与检测，表面粗糙度及测量，滚动轴层、圆锥、键和花键、螺纹、圆柱齿轮公差与检测。