书名：《互换性与技术测量》
CIP：2015012293
作者：王晓方等编著
出版地：北京
出版时间：2015.3
出版价格：42元
本书内容包括：互换性与技术测量的基本概念；几何量测量技术基础；孔、轴尺寸公差与配合；几何公差与检测；表面粗糙度与检测；光滑工件尺寸检验与光滑极限量规设计；滚动轴承的公差与配合；圆锥的公差与配合；键和花键的公差与检测；螺纹公差与检测；圆柱齿轮公差与检测共十一个模块。